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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測(cè)量工具，為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元巧妙集成于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)的精確操縱與電學(xué)測(cè)量。通過這一系統(tǒng)，研究人員不僅可以實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)地觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分和元素價(jià)態(tài)的變化，還可以在多種外場(chǎng)環(huán)境下進(jìn)行多維度的原位表征。

PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿，基于樣品端超薄設(shè)計(jì)，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測(cè)試需求。

PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品，提高測(cè)試效率，減少頻繁插拔樣品桿對(duì)測(cè)角臺(tái)的磨損。

PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測(cè)量或光譜學(xué)表征研究。

澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進(jìn)行原位測(cè)量而設(shè)計(jì)。該系列產(chǎn)品通過在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿中加裝上下兩片氣體/液體芯片，形成一個(gè)微反應(yīng)腔，配合氣體/液體控制系統(tǒng)以及選配的加熱或電學(xué)控制模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)在復(fù)雜環(huán)境中的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)觀測(cè)與測(cè)量。研究人員可以在透射電鏡中模擬高溫氣氛、液體化學(xué)反應(yīng)等。