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Product CategoryPicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
查看更多澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡(TEM)測量工具,為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中,能夠在透射電鏡腔體內(nèi)實現(xiàn)對單個納米結(jié)構(gòu)的精確操縱與電學(xué)測量。通過這一系統(tǒng),研究人員不僅可以實時動態(tài)地觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分和元素價態(tài)的變化,還可以在多種外場環(huán)境下進行多維度的原位表征。
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